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SKD308TB三温平移式测试分选机
SKD308TB三温平移式测试分选机

● 上下料方式:振动盘上料,支持料盒、Tray盘两种出料方式;

● 转塔驱动方式:DDR驱动,伺服电机独立下压;

● 影像检测:配置顶部影像,3D5S影像,用于辨别芯片方向并检测外观不良;

● 上下料吸嘴:2X4模式,吸嘴X向可边距,吸嘴Z轴电机独立控制,Y轴方向为双边驱动方式;

● 温控功能:测试TJ:±2℃; 预温盘/梭车:±3℃;TC:±1℃;200W@-55℃ / 300W@-40℃ / 850W@25℃ / 1150W@85~150℃ / 选配200℃;

● 换盘机械手:夹爪方式,安全可靠,同时具备掉电自动上拉功能;

● 测试机构:模式1:1X2/2X2,X=80±0.01mm, Y=60±0.01mm 模式2:1X4/2X4, X=40±0.01mm,Y=60±0.01mm,可依据IC脚数/球数自动计算测压力;

● 自动清洁功能:配置清洁盘组件,测试次数达到设定值后设备自动清理探针;

● 可连接多种品牌测试机,软件自主产权,支持RS232/TTL/GPIB/网口等通信方式。


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SKD308TB三温平移式测试分选机

 详情说明

SKD308TB 三温平移式测试分选机适用于DFN、QFN、LGA、CSP、SOP、MSOP、TSSOP等产品规格在2X2-10X10的低温/常温/高温测试分选、分类需求,整合影像系统,为客户带来高质量的产品输出。


● 上下料方式:振动盘上料,支持料盒、Tray盘两种出料方式;

● 转塔驱动方式:DDR驱动,伺服电机独立下压;

● 影像检测:配置顶部影像,3D5S影像,用于辨别芯片方向并检测外观不良;

● 上下料吸嘴:2X4模式,吸嘴X向可边距,吸嘴Z轴电机独立控制,Y轴方向为双边驱动方式;

● 温控功能:测试TJ:±2℃; 预温盘/梭车:±3℃;TC:±1℃;200W@-55℃ / 300W@-40℃ / 850W@25℃ / 1150W@85~150℃ / 选配200℃;

● 换盘机械手:夹爪方式,安全可靠,同时具备掉电自动上拉功能;

● 测试机构:模式1:1X2/2X2,X=80±0.01mm, Y=60±0.01mm 模式2:1X4/2X4, X=40±0.01mm,Y=60±0.01mm,可依据IC脚数/球数自动计算测压力;

● 自动清洁功能:配置清洁盘组件,测试次数达到设定值后设备自动清理探针;

● 可连接多种品牌测试机,软件自主产权,支持RS232/TTL/GPIB/网口等通信方式。



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振盘上料,配置顶部影像,3D5S,极性测试,配置丰富,功能强大

交叉上料,减少机构动作的等待时间,提升效率。

出料结构配置料盒(一大四小,可选)、料盘结构,适用场景更广泛。​



参数信息
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