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半导体测试分选:芯片良率的“守门人

文章出处:行业资讯 责任编辑:深圳市深科达半导体科技有限公司 发表时间:2025-11-04
  在芯片从晶圆走向终端应用的路上,测试分选是绕不开的一道关。它不只是“测一测、分一分”,而是决定一颗芯片能不能用、用在哪、怎么用的关键步骤。


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测什么?

每颗芯片在封装前后都要经过电性能测试,看看能不能达到设计指标。比如电压、电流、频率、功耗这些基本参数,有没有“掉链子”。这一步,直接决定了芯片能不能进入市场。



怎么分?

测完的芯片不能“一锅端”,得按性能等级分开。好的进高端市场,普通的走大众路线,有瑕疵的淘汰或降级处理。这个过程叫“分选”,是保障客户拿到一致性和可靠性的核心环节。



为什么重要?

没有测试分选,芯片就像没体检的病人,看似正常,实则隐患重重。良率虚高、客户投诉、品牌受损,甚至整机召回,往往都源于测试分选环节的疏漏。尤其在汽车、工业、医疗这些高可靠性场景,一颗“漏网之鱼”就可能带来巨大风险。




深科达半导体在做什么?

我们不做芯片,也不做测试程序,我们专注做一件事:把芯片测得准、分得对、传得快。 


深圳市深科达半导体科技有限公司,专注半导体测试分选设备研发与制造,提供稳定、高效、易用的半导体测试分选解决方案,服务封装厂、测试厂及IDM客户。设备覆盖多种封装形式,适配主流测试平台,帮助客户提升良率、降低损耗、守住品质底线。

芯片越来越小,性能要求越来越高,测试分选不再是“后道工序”,而是品质体系的“守门人”!  深科达半导体愿做半导体品质线的“守门人”!

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